การสัมมนาเชิงปฏิบัติการ เรื่อง การใช้เครื่องโฟกัสไอออนบีมและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทางด้านนาโน สำหรับตรวจวิเคราะห์ชิ้นงานในภาคอุตสาหกรรม

รองศาสตราจารย์ ดร.สัมพันธ์  สิงหราชวราพันธ์ คณบดีคณะวิทยาศาสตร์ เป็นประธานเปิดการสัมมนาเชิงปฏิบัติการ เรื่อง การใช้เครื่องโฟกัสไอออนบีมและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทางด้านนาโน สำหรับตรวจวิเคราะห์ชิ้นงานในภาคอุตสาหกรรม โดยรองศาสตราจารย์ ดร.จีรยุทธ ไชยจารุวณิช รองคณบดีฝ่ายวิจัยและวิเทศสัมพันธ์ คณะวิทยาศาสตร์ กล่าวรายงานความเป็นมาของการจัดงาน ในวันที่ 2 กุมภาพันธ์ 2555 เวลา 09.00 น. ณ ห้องสัมมนา ชั้น 2 อาคาร 40 ปี คณะวิทยาศาสตร์ การสัมมนาครั้งนี้จัดขึ้นโดย เครือข่ายความเป็นเลิศด้านวัสดุนาโนเฉพาะทาง มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ เพื่อให้ความรู้เกี่ยวกับเทคนิคการวิเคราะห์และการเตรียมชิ้นงานระดับนาโนเทคโนโลยีด้วยเครื่องโฟกัสไอออนบีมและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนทางด้านนาโน ซึ่งกำหนดจัดขึ้นระหว่างวันที่ 2 – 3 กุมภาพันธ์ 2555 


วันที่ : 2 ก.พ. 2012